涂层测厚仪 Surfix 一体统计型

Surfix 一体统计型涂层测厚仪

技术参数

测量原理              F性：电磁
N型：涡流

测量范围              0～1500μm

误差                  ±(1μm +3%)

分辨率                0.1um或小于读数的千分之二

显示                  四位数LCD显示，背景光

*小面积              5mm×5mm

*小曲率半径          凸面：3mm

                      凹面： 50mm

*小基体厚度           F型：0.5mm

N型：50μm

校准                  厂家校准、零校准、标准箔校准

数据统计              读数个数、平均值、标准偏差、*大值和*小值，*多10,000个

数据存储              *多80个读数；统计数据

报警                  上下限可调，声音报警

数据接口              红外通讯

环境温度/表面温度     0～50℃/150℃

电源                  两节5号电池，50小时寿命

仪器尺寸              140×62×30mm

探头尺寸              Φ14×83mm

重量                  200g

保护级别              IP52(防灰尘、防滴水)

符合标准              DIN、ISO、ATSM、BS

Surfix 一体统计型涂层测厚仪 标准配置
主机、 探头、零板、 标准箔、 电池、 便携软包、 操作手册